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法人番号 2010101002925

日本分光株式会社

東京都八王子市 設立 1958-04-01
照合済みの公的データ
国税庁 gBizINFO
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基本情報 公開
出所 国税庁・gBizINFO
確認 2019-09-30
商号
日本分光株式会社
法人種別
株式会社
本店所在地
東京都八王子市石川町2967番地の5
設立
1958-04-01
法人番号指定日
2015-10-05
代表者
代表取締役 佐藤 賢治
従業員数
287名
事業概要 公開
出所 gBizINFO(事業者の登録情報)
分析機器製造・販売
注意情報 有無を公開
出所 官報・行政処分公表
照合 毎日
注意情報は確認されていません
破産手続・解散・行政処分の公表を毎日照合しています
基本情報の時系列 会員
出所 国税庁
照合 毎日
法人番号の指定 国税庁により法人番号が指定されました
変更履歴は2026年7月の収集開始以降に確認された変化です
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落札実績(国の機関) 会員

政府電子調達システムに登録された国の機関(府省庁等)の落札実績です。地方自治体・独立行政法人の案件は含まれません。

紫外可視分光光度計システム 一式 購入 3百万円 厚生労働省・一般競争入札・最低価格
令和4年度 加熱ステージによるラマン分析システムの導入 5百万円 原子力安全庁・一般競争入札・最低価格
紫外可視分光光度計 一式の購入 1百万円 国税庁・一般競争入札・最低価格
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公的実績 会員
出典 経済産業省 gBizINFO
取得 2026-07-20
届出・認定 1
届出・認定 1件
事業継続力強化計画認定 中小企業庁
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知的財産(特許・意匠・商標) 会員
出典 経済産業省 gBizINFO(特許庁の産業財産権情報)
特許 66意匠 1商標 4
特許 スペクトル解析方法、解析装置および解析プログラム 登録7320894
特許 スペクトル解析方法、解析装置および解析プログラム 登録7320894
特許 スペクトル解析方法、解析装置および解析プログラム 登録7320894
意匠 分光光度計 登録1719795
商標 §FT/IR-4X 登録6582541
商標 §FT/IR‐8X 登録6582543
商標 §FT/IR‐6X 登録6582542
特許 赤外域の円二色性測定装置 登録7170367
特許 顕微分光測定装置 登録7412758
特許 顕微分光測定装置 登録7412758
特許 顕微分光測定装置 登録7412758
特許 異物分析方法、異物分析プログラムおよび異物分析装置 登録6778451
特許 異物分析方法、異物分析プログラムおよび異物分析装置 登録6778451
特許 異物分析方法、異物分析プログラムおよび異物分析装置 登録6778451
特許 蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置 登録6788298
特許 蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置 登録6788298
特許 蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置 登録6788298
特許 蛍光観察機能を備えるラマン顕微装置 登録6788298
特許 反射型の偏光分離回折素子、および、これを備えた光学測定装置 登録6896262
特許 反射型の偏光分離回折素子、および、これを備えた光学測定装置 登録6896262
ほか 51 件(新しい順に20件表示)
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